MicrovisionSS410XE-成像亮度计-显示屏时间响应分析仪
SS410-XE(OMM,光学测量模块)是一个综合测试型模块,最多可以配置三个功能器件,包括一个高分辨率的二维CCD相机、一个衍射光栅光谱仪和响应时间模块(RTM),分别对应不同的测试功能。CCD相机一种用于空间测量的二维阵列,其高倍放大功能可以详细分析显示特性,包括点分析、线宽、收敛、时间方差、MTF等,还用于测量显示的较大尺寸几何图形的参数。光谱辐射计使用衍射光栅和光纤透镜组件来收集光学信息,仅用于颜色和亮度的测量。响应时间模块(RTM)主要用于测量各种LCD显示器的灰度和升降时间。