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Microvision 显示测试系统

主要代理美国Microvision Systems的产品有:显示屏测试系统、角度测试仪、光学测量模块和响应时间测试仪。

 

产品列表

产品 功能组件   测量项目  产品特点
Microvision SS445 CCD相机

光谱辐射计+测角仪

位移台

MTF、亮度、色度、均匀度、伽马等

  • 适合超大屏幕测量
  • 基于观测者角度测量,更好地表征用户体验
  • 多功能集合体,设计紧凑
Microvision SS430

CCD相机

RTM 时间响应模块

光谱辐射计+测角仪

位移台

亮度、色度、对比度、环境杂散光测试、空间测量、时间测量等

 

  • 结合了SS410和SS420模块的全部功能
  • 适用于绝大部分显示屏测量
  • 可通过MV Remote控制模式测量智能手机等
Microvision SS420  光谱辐射计+测角仪 亮度、色度、对比度、环境杂散光测试

 

  • 可进行方位角达85°的角度测试
  • 测量距离非常接近显示屏
  • 单点测量,也可自动测量显示屏的不同位置 
Microvision SS410-XE

CCD相机

光谱辐射计

RTM 时间响应模块

空间测量、时间测量、亮度、色度、均匀度、光谱图等

 

  • 三个功能组件分别对应不同的测试功能
  • 单点测量,也可自动测量显示屏的不同位置
Microvision RTM-3   RTM 时间响应模块

上升时间、下降时间、过冲、运动模糊、灰度响应和频闪等

  • 瞬变时间:0.1ms ~ 4s
Microvision RTM-HS

RTM 时间响应模块

  • 瞬变时间:0.01ms ~ 4s

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  • 适合超大屏幕测量和投影显示
  • 采用电动平移和倾斜机制
  • 1.4 MP CCD相机和衍射光栅光谱仪
  • 自动显示测试图案,同步捕获数据
  • 完全自动化,简化测量过程
  • NIST可溯源校准 
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  • 多功能集合体,设计紧凑 
  • 包含集成信号源
  • 具备MV remote模式,通过WiFi连接和测量移动设备
  • 自动化测试
  • 程序自动控温,精确测量
  • 包含MV系统软件,操作界面友好

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  • 2048像素CCD相机,16位A/D数字分辨率
  • 高分辨率和温度可调节衍射光栅光谱仪
  • 12 mm准直镜头和石英消偏器
  • 离轴测量,方位角达85°的角度测试
  • 50%,25%,10%和1%中性密度滤镜可选

 

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  • 高分辨率1392x1040,12位数字CCD相机
  • 衍射光栅光谱仪
  • 自动测量
  • 实时图像处理
  • 图形发生器(模拟和数字驱动)
  • 可选响应时间模块

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  • 配置灵活,既可单独使用,也可集成到SS400系列
  • 自动测量上升和下降时间
  • 自动测量灰阶过渡时间
  • 数据采集与回放
  • 专利滤波技术可提高精度
  • 动态范围广–无需ND滤镜

 

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  • 全自动测试
  • 自动增益/缩放
  • 自动测量灰阶过渡时间,瞬变时间高达10μs
  • 可自定义设置
  • 专有过滤算法
  • 动态范围广

 

MicrovisionSS410XE-成像亮度计-显示屏时间响应分析仪

MicrovisionSS410XE-成像亮度计-显示屏时间响应分析仪

SS410-XE(OMM,光学测量模块)是一个综合测试型模块,最多可以配置三个功能器件,包括一个高分辨率的二维CCD相机、一个衍射光栅光谱仪和响应时间模块(RTM),分别对应不同的测试功能。CCD相机一种用于空间测量的二维阵列,其高倍放大功能可以详细分析显示特性,包括点分析、线宽、收敛、时间方差、MTF等,还用于测量显示的较大尺寸几何图形的参数。光谱辐射计使用衍射光栅和光纤透镜组件来收集光学信息,仅用于颜色和亮度的测量。响应时间模块(RTM)主要用于测量各种LCD显示器的灰度和升降时间。
MicrovisionRTMHS显示屏响应时间测试仪-OLED响应时间分析仪

MicrovisionRTMHS显示屏响应时间测试仪-OLED响应时间分析仪

RTM-HS是一个专门用于测试响应时间的模块,瞬变时间能达到10μs,可以用于测量LCD,OLED,QLED等各种类型显示器,主要测量包括上升时间,下降时间,过冲Overshoot,运动模糊,灰度响应和频闪Flicker等,可以连接示波器显示测量结果,也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置。高速版本(RTM-HS)的最小测得过渡时间为10 µs,因此也适用于OLED。
MicrovisionRTM3平板显示时间响应分析仪-平板显示亮度瞬态响应特性测量系统

MicrovisionRTM3平板显示时间响应分析仪-平板显示亮度瞬态响应特性测量系统

​RTM-3是一个专门用于测试响应时间的测试仪,可以用于测量OLED,QLED等各种类型显示器,主要测量包括上升时间,下降时间,过冲Overshoot,运动模糊,灰度响应和频闪Flicker,可以连接示波器显示测量结果,也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置。标准的RTM-3具有100µs的最小测得过渡时间,使其适用于LCD和等离子显示器。
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