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MicrovisionRTM3平板显示时间响应分析仪-平板显示亮度瞬态响应特性测量系统

​RTM-3是一个专门用于测试响应时间的测试仪,可以用于测量OLED,QLED等各种类型显示器,主要测量包括上升时间,下降时间,过冲Overshoot,运动模糊,灰度响应和频闪Flicker,可以连接示波器显示测量结果,也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置。标准的RTM-3具有100µs的最小测得过渡时间,使其适用于LCD和等离子显示器。

MicrovisionRTM3平板显示时间响应分析仪-平板显示亮度瞬态响应特性测量系统

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品牌:

Microvision

型号:

RTM-3

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Microvision RTM-3时间响应模块

 

品牌:Microvision

型号:RTM-3


RTM-3是一个专门用于测试响应时间的测试仪,可以用于测量OLED,QLED等各种类型显示器,主要测量包括上升时间,下降时间,过冲Overshoot,运动模糊,灰度响应和频闪Flicker,可以连接示波器显示测量结果,也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置。标准的RTM-3具有100µs的最小测得过渡时间,使其适用于LCD和等离子显示器。


RTM是一个集成的光电二极管/放大器单元,安装在带有适当驱动电子元件的PC板上。它位于光学测量模块(OMM)最上面的位置,也是关闭的。透镜系统与CCD相机标准透镜系统相同,只是多了一个热镜。RTM镜头的光圈和焦距是可变的。热镜用来阻止任何红外线。热镜能阻止波长为700nm或更高的红外辐射撞击光电二极管。使用可 变数量的扩展器耦合允许选择大范围的放大。如果使用的扩展器耦合的数量等于CCD相机中扩展器耦合的数量,则RTM探测器的放大倍数与CCD相机相同。RTM还使用ADC板处理时态数据。RTM探测器可以由外部触发,也可以由内部触发。在这两种情况下,系统都可以在强度变化之前或之后立即存储和显示事件。RTM也可以作为一个独立装置使用。



产品亮点: 

  • 配置灵活,既可单独使用,也可集成到SS400系列
  • 由光电二极管和可变焦光圈透镜系统组成
  • 自动测量上升和下降时间
  • 自动测量灰阶过渡时间
  • 自动ISO主导闪烁组件
  • 数据采集与回放
  • 专利滤波技术可提高精度
  • 动态范围广–无需ND滤镜
  • 3D图和报告所有级别上的灰阶响应
  • 多个上升/下降时间曲线叠加以便进行比较
  • 符合多个测试标准: ISO-9241, VESA FPDM 2.0


应用范围: 

  • 平板显示(FPD)- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma
  • 智能移动显示 - 手机,平板
  • 投影显示 - 选用余弦扩散器测试
  • 抬头显示 - HUD & HDD
  • HDTV,NTSC, PAL & SECAM电视
  • 适用SS90定位器可测试93”超大尺寸屏幕
  • CRT显示 - 单色,彩色,高分辨率医学显示器


测试案例:

升级选项: 

  • 标准测量(VESA FPDM 2.0,TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0,ISO 9241-3XX,ISO 13406)
  • 更高的灵敏度(RTM-HS,响应时间可达10μs,可用于OLED响应时间测试)
  • 多功能光学测量模块SS410(搭配CCD相机或光谱辐射计)
  • 完整测量系统(搭配其他组件,组成SS430系统)
  • 精准位移台(搭配位移台,可精确位移从而实现自动测试)
  • DUT位移台(DPS-1显示位移台,可以调整DUT x,y,z轴位置,并可调整角度,精度为0.1°)


技术参数:

  • RTM 时间响应模块
  • 瞬变时间:0.1ms ~ 4s(0.01ms可选RTM-HS)
  • 分辨率:16位
  • 光型:低噪声,快速响应光电二极管
  • 样品频率:1MHz Max. (500kHz可选)
  • 探测器响应:20kHz(滤波)
  • 同步性:软件和外部选项
  • 重复性:3%
  • 亮度范围:0.01 ~ 50Kcd/m2

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产品详情


Microvision RTM-3时间响应模块

 

品牌:Microvision

型号:RTM-3


RTM-3是一个专门用于测试响应时间的测试仪,可以用于测量OLED,QLED等各种类型显示器,主要测量包括上升时间,下降时间,过冲Overshoot,运动模糊,灰度响应和频闪Flicker,可以连接示波器显示测量结果,也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置。标准的RTM-3具有100µs的最小测得过渡时间,使其适用于LCD和等离子显示器。


RTM是一个集成的光电二极管/放大器单元,安装在带有适当驱动电子元件的PC板上。它位于光学测量模块(OMM)最上面的位置,也是关闭的。透镜系统与CCD相机标准透镜系统相同,只是多了一个热镜。RTM镜头的光圈和焦距是可变的。热镜用来阻止任何红外线。热镜能阻止波长为700nm或更高的红外辐射撞击光电二极管。使用可 变数量的扩展器耦合允许选择大范围的放大。如果使用的扩展器耦合的数量等于CCD相机中扩展器耦合的数量,则RTM探测器的放大倍数与CCD相机相同。RTM还使用ADC板处理时态数据。RTM探测器可以由外部触发,也可以由内部触发。在这两种情况下,系统都可以在强度变化之前或之后立即存储和显示事件。RTM也可以作为一个独立装置使用。



产品亮点: 

  • 配置灵活,既可单独使用,也可集成到SS400系列
  • 由光电二极管和可变焦光圈透镜系统组成
  • 自动测量上升和下降时间
  • 自动测量灰阶过渡时间
  • 自动ISO主导闪烁组件
  • 数据采集与回放
  • 专利滤波技术可提高精度
  • 动态范围广–无需ND滤镜
  • 3D图和报告所有级别上的灰阶响应
  • 多个上升/下降时间曲线叠加以便进行比较
  • 符合多个测试标准: ISO-9241, VESA FPDM 2.0


应用范围: 

  • 平板显示(FPD)- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma
  • 智能移动显示 - 手机,平板
  • 投影显示 - 选用余弦扩散器测试
  • 抬头显示 - HUD & HDD
  • HDTV,NTSC, PAL & SECAM电视
  • 适用SS90定位器可测试93”超大尺寸屏幕
  • CRT显示 - 单色,彩色,高分辨率医学显示器


测试案例:

升级选项: 

  • 标准测量(VESA FPDM 2.0,TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0,ISO 9241-3XX,ISO 13406)
  • 更高的灵敏度(RTM-HS,响应时间可达10μs,可用于OLED响应时间测试)
  • 多功能光学测量模块SS410(搭配CCD相机或光谱辐射计)
  • 完整测量系统(搭配其他组件,组成SS430系统)
  • 精准位移台(搭配位移台,可精确位移从而实现自动测试)
  • DUT位移台(DPS-1显示位移台,可以调整DUT x,y,z轴位置,并可调整角度,精度为0.1°)


技术参数:

  • RTM 时间响应模块
  • 瞬变时间:0.1ms ~ 4s(0.01ms可选RTM-HS)
  • 分辨率:16位
  • 光型:低噪声,快速响应光电二极管
  • 样品频率:1MHz Max. (500kHz可选)
  • 探测器响应:20kHz(滤波)
  • 同步性:软件和外部选项
  • 重复性:3%
  • 亮度范围:0.01 ~ 50Kcd/m2
MicrovisionRTM3平板显示时间响应分析仪-平板显示亮度瞬态响应特性测量系统
​RTM-3是一个专门用于测试响应时间的测试仪,可以用于测量OLED,QLED等各种类型显示器,主要测量包括上升时间,下降时间,过冲Overshoot,运动模糊,灰度响应和频闪Flicker,可以连接示波器显示测量结果,也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置。标准的RTM-3具有100µs的最小测得过渡时间,使其适用于LCD和等离子显示器。
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