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MicrovisionSS410XE-成像亮度计-显示屏时间响应分析仪

SS410-XE(OMM,光学测量模块)是一个综合测试型模块,最多可以配置三个功能器件,包括一个高分辨率的二维CCD相机、一个衍射光栅光谱仪和响应时间模块(RTM),分别对应不同的测试功能。CCD相机一种用于空间测量的二维阵列,其高倍放大功能可以详细分析显示特性,包括点分析、线宽、收敛、时间方差、MTF等,还用于测量显示的较大尺寸几何图形的参数。光谱辐射计使用衍射光栅和光纤透镜组件来收集光学信息,仅用于颜色和亮度的测量。响应时间模块(RTM)主要用于测量各种LCD显示器的灰度和升降时间。

MicrovisionSS410XE-成像亮度计-显示屏时间响应分析仪
品牌:

Microvision

型号:

SS410-XE

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Microvision SS410-XE光学测量模块

 

品牌:Microvision

型号:SS410-XE


SS410-XE(OMM,光学测量模块)是一个综合测试型模块,最多可以配置三个功能器件,包括一个高分辨率的二维CCD相机、一个衍射光栅光谱仪和响应时间模块(RTM),分别对应不同的测试功能。CCD相机一种用于空间测量的二维阵列,其高倍放大功能可以详细分析显示特性,包括点分析、线宽、收敛、时间方差、MTF等,还用于测量显示的较大尺寸几何图形的参数。光谱辐射计使用衍射光栅和光纤透镜组件来收集光学信息,仅用于颜色和亮度的测量,例如亮度、色度、均匀性、光谱图、伽玛、对比度等。响应时间模块(RTM)包含一个光电二极管检测器,并包含一个类似CCD相机的光学系统,主要用于测量各种LCD显示器的灰度和升降时间,包括运动/模糊、上升时间、下降时间、灰度转换时间、闪烁等。该设计中包含了对视频处理的完全控制,这一特性可以实现与UUT真正的帧同步,测量数据可以逐帧地采集和处理。SS410可以根据具体测量需求进行组合,既可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置。

      

产品亮点: 

  • 高分辨率1392x1040,12位数字CCD相机
  • 衍射光栅光谱仪
  • 自动测量
  • 实时图像处理
  • 图形发生器(模拟和数字驱动)
  • 可选响应时间模块
  • 余弦扩散器
  • NIST可追溯标准
  • 搭配灵活,可按需定制
  • 符合多个测试标准:FPD,VESA FPDM V2.0,TCO 03,05&06,ISO 9241-3,8,TCO 95,ISO 9241-3xx


应用范围: 

  • 平板显示(FPD)- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma
  • 智能移动显示 - 手机,平板
  • 投影显示 - 选用余弦扩散器测试
  • 抬头显示 - HUD & HDD
  • HDTV,NTSC, PAL & SECAM电视
  • 适用SS90定位器可测试93″超大尺寸屏幕
  • CRT显示 - 单色,彩色,高分辨率医学显示器


测试案例:

升级选项: 

  • 标准测量(VESA FPDM 2.0,TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0,ISO 9241-3XX,ISO 13406)
  • 完整测量系统(搭配其他组件,组成SS430系统)
  • 精准位移台(搭配位移台,可精确位移从而实现自动测试)
  • DUT位移台(DPS-1显示位移台,可以调整DUT x,y,z轴位置,并可调整角度,精度为0.1°)
  • 提升测量范围(适用ND滤光片,提高感光器件的测试范围)


技术参数:


CCD相机
  • 数字视频:12-位 
  • 图像传感器:1392x1040 像素
  • 亮度精度:± 4% @ 2856K Ill.A
  • 亮度范围:0.05 ~ 106 cd/m2 (含ND滤镜)
  • 元件尺寸:6.45 μm/像素
  • 同步性:同步捕获
  • 滤镜:适光性 50%, 20%, 10% & 1% ND
  • 标准镜头:25mm C mount, f1.6 - f16
  • 视场:11mm,可调节
  • 工作距离范围:0.5~3.5 m
  • 测量时间:对于多数测量<1 sec

 

Spectrometer光谱辐射计
  • 数字分辨率:16 bit A/D
  • 积分时间:16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)
  • 光学分辨率:3.8nm半高宽 @ 100μm狭缝
  • 波长范围:380 ~ 780nm (1000nm可选)
  • 亮度范围:0.01 ~ 500K cd/m2
  • 亮度精度:±3% @ 2856K Ill.A
  • 亮度重复率:超过30分钟RSD < 0.5%,0.01 cd/m2灵敏度@ 3% RSD
  • 色彩准确度:±0.002 @ 2856K Ill.A
  • 色彩重复率:±0.0005 @ 2856K Ill.A
  • 温度管理:电脑自动控制
  • 光学器件:12mm 准直 
  • 视场角:1.5°
  • 校准:NIST可追溯 
  • 操作温度:5~ 30℃

 

RTM 时间响应模块
  • 分辨率:16位
  • 瞬变时间:0.1ms ~ 4s(0.01ms可选RTM-HS)
  • 亮度范围:0.01 ~ 50Kcd/m2
  • 光型:低噪声,快速响应光电二极管
  • 样品频率:1MHz Max. (500kHz可选)
  • 探测器响应:20kHz(滤波)
  • 同步性:软件和外部选项
  • 重复性:3%


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Microvision SS410-XE光学测量模块

 

品牌:Microvision

型号:SS410-XE


SS410-XE(OMM,光学测量模块)是一个综合测试型模块,最多可以配置三个功能器件,包括一个高分辨率的二维CCD相机、一个衍射光栅光谱仪和响应时间模块(RTM),分别对应不同的测试功能。CCD相机一种用于空间测量的二维阵列,其高倍放大功能可以详细分析显示特性,包括点分析、线宽、收敛、时间方差、MTF等,还用于测量显示的较大尺寸几何图形的参数。光谱辐射计使用衍射光栅和光纤透镜组件来收集光学信息,仅用于颜色和亮度的测量,例如亮度、色度、均匀性、光谱图、伽玛、对比度等。响应时间模块(RTM)包含一个光电二极管检测器,并包含一个类似CCD相机的光学系统,主要用于测量各种LCD显示器的灰度和升降时间,包括运动/模糊、上升时间、下降时间、灰度转换时间、闪烁等。该设计中包含了对视频处理的完全控制,这一特性可以实现与UUT真正的帧同步,测量数据可以逐帧地采集和处理。SS410可以根据具体测量需求进行组合,既可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置。

      

产品亮点: 

  • 高分辨率1392x1040,12位数字CCD相机
  • 衍射光栅光谱仪
  • 自动测量
  • 实时图像处理
  • 图形发生器(模拟和数字驱动)
  • 可选响应时间模块
  • 余弦扩散器
  • NIST可追溯标准
  • 搭配灵活,可按需定制
  • 符合多个测试标准:FPD,VESA FPDM V2.0,TCO 03,05&06,ISO 9241-3,8,TCO 95,ISO 9241-3xx


应用范围: 

  • 平板显示(FPD)- OLED, QLED, LCD, Micro-LED, Plasma
  • 智能移动显示 - 手机,平板
  • 投影显示 - 选用余弦扩散器测试
  • 抬头显示 - HUD & HDD
  • HDTV,NTSC, PAL & SECAM电视
  • 适用SS90定位器可测试93″超大尺寸屏幕
  • CRT显示 - 单色,彩色,高分辨率医学显示器


测试案例:

升级选项: 

  • 标准测量(VESA FPDM 2.0,TCO 5.2, 6.0, 7.0, 8.0,ISO 9241-3XX,ISO 13406)
  • 完整测量系统(搭配其他组件,组成SS430系统)
  • 精准位移台(搭配位移台,可精确位移从而实现自动测试)
  • DUT位移台(DPS-1显示位移台,可以调整DUT x,y,z轴位置,并可调整角度,精度为0.1°)
  • 提升测量范围(适用ND滤光片,提高感光器件的测试范围)


技术参数:


CCD相机
  • 数字视频:12-位 
  • 图像传感器:1392x1040 像素
  • 亮度精度:± 4% @ 2856K Ill.A
  • 亮度范围:0.05 ~ 106 cd/m2 (含ND滤镜)
  • 元件尺寸:6.45 μm/像素
  • 同步性:同步捕获
  • 滤镜:适光性 50%, 20%, 10% & 1% ND
  • 标准镜头:25mm C mount, f1.6 - f16
  • 视场:11mm,可调节
  • 工作距离范围:0.5~3.5 m
  • 测量时间:对于多数测量<1 sec

 

Spectrometer光谱辐射计
  • 数字分辨率:16 bit A/D
  • 积分时间:16.7 ~ 5000 msec (sync@60hz)
  • 光学分辨率:3.8nm半高宽 @ 100μm狭缝
  • 波长范围:380 ~ 780nm (1000nm可选)
  • 亮度范围:0.01 ~ 500K cd/m2
  • 亮度精度:±3% @ 2856K Ill.A
  • 亮度重复率:超过30分钟RSD < 0.5%,0.01 cd/m2灵敏度@ 3% RSD
  • 色彩准确度:±0.002 @ 2856K Ill.A
  • 色彩重复率:±0.0005 @ 2856K Ill.A
  • 温度管理:电脑自动控制
  • 光学器件:12mm 准直 
  • 视场角:1.5°
  • 校准:NIST可追溯 
  • 操作温度:5~ 30℃

 

RTM 时间响应模块
  • 分辨率:16位
  • 瞬变时间:0.1ms ~ 4s(0.01ms可选RTM-HS)
  • 亮度范围:0.01 ~ 50Kcd/m2
  • 光型:低噪声,快速响应光电二极管
  • 样品频率:1MHz Max. (500kHz可选)
  • 探测器响应:20kHz(滤波)
  • 同步性:软件和外部选项
  • 重复性:3%


MicrovisionSS410XE-成像亮度计-显示屏时间响应分析仪
SS410-XE(OMM,光学测量模块)是一个综合测试型模块,最多可以配置三个功能器件,包括一个高分辨率的二维CCD相机、一个衍射光栅光谱仪和响应时间模块(RTM),分别对应不同的测试功能。CCD相机一种用于空间测量的二维阵列,其高倍放大功能可以详细分析显示特性,包括点分析、线宽、收敛、时间方差、MTF等,还用于测量显示的较大尺寸几何图形的参数。光谱辐射计使用衍射光栅和光纤透镜组件来收集光学信息,仅用于颜色和亮度的测量。响应时间模块(RTM)主要用于测量各种LCD显示器的灰度和升降时间。
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